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U-SMPS2050/2100/2200通用掃描遷移率粒度儀，長分類柱（2050/2100型）能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas®U-SMPS系統(tǒng)包括一個(gè)分類器[在ISO 15900中定義為差分電遷移率分類器（DMA），也稱為差分遷移率分析器（DEMC）]，根據(jù)氣溶膠顆粒的電遷移率選擇并傳遞給出口。

德圖粒徑分析儀-手持納米顆粒計(jì)數(shù)器基于氣溶膠充電原理,全新的德圖DiSCmini移動(dòng)式測量粒子數(shù)目和平均半徑。尺寸的手持德圖DiSCmini尤其適合手持式的測量任務(wù)。

德圖揮發(fā)性顆粒取樣器符合PMP標(biāo)準(zhǔn)對原始尾=顆粒分析的取樣、稀釋和調(diào)節(jié)。 與一個(gè)符合UNECE R83和R49規(guī)范，在汽車尾氣中測量固體微粒濃度的粒子濃度計(jì)連接。

德圖便攜式固體顆粒計(jì)數(shù)器能測量直徑10 - 700納米范圍內(nèi)的微粒的數(shù)量濃度和平均粒徑。它設(shè)計(jì)緊湊、便攜,并且支持在線分析。

掃描電遷儀(通用掃描遷移率粒度儀)是一種用于測量氣溶膠顆粒粒徑分布的高精度儀器，基于 ?電遷移率分類原理，能夠快速、準(zhǔn)確地分析納米至微米級顆粒的粒徑與濃度。其核心功能包括 ?粒徑分布測量、實(shí)時(shí)監(jiān)測、多通道數(shù)據(jù)采集，廣泛應(yīng)用于氣溶膠科學(xué)研究、環(huán)境監(jiān)測、工業(yè)過程控制等領(lǐng)域。

Charme® 氣溶膠靜電計(jì)已在研究應(yīng)用中被用于測量氣溶膠的平均電荷。如果已知用于單分散氣溶膠粒子的電荷狀態(tài)，則這些設(shè)備能夠快速、輕松地確定約尺寸≥2 nm的粒子數(shù)濃度。